GB/T 2423.25-2008/IEC 60068-2-40:1976 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分∶試驗方法 試驗Z/AM∶低溫/低氣壓綜合試驗

1  引言

1.1  概述

GB/T 2423的本部分是關(guān)于散熱和非散熱試驗樣品低溫（溫度漸變或突變）和低氣壓綜合試驗，見8.2.2和8.2.8。

本試驗?zāi)康氖谴_定元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品對其貯存和使用中遇到的低溫-低氣壓綜合環(huán)境的適應(yīng)性。

本綜合試驗通常只有在試驗樣品進行單一環(huán)境試驗不能揭示綜合環(huán)境影響時使用。本部分規(guī)定的試驗程序只適用于在試驗期間能夠達到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。

本部分規(guī)定的試驗方法一次只能試驗一個散熱試驗樣品。

1.2  低氣壓

本試驗程序適用于氣壓大于1kPa的壓力試驗。當氣壓小于或等于1kPa時，可不必考慮試驗程序的內(nèi)容。

本部分沒有指明高度、壓力和溫度的關(guān)系。三者的關(guān)系見專門標準。

1.3  溫度

1.3.1 GB/T 2423.1試驗A中有關(guān)非散熱試驗樣品和散熱試驗樣品試驗應(yīng)用對比的指導(dǎo)適用于本部分。

注∶非散熱試驗樣品的定義按GB/T2421相關(guān)的規(guī)定，不應(yīng)在低氣壓下測量其最熱點的溫度。

1.3.2 GB/T 2423.1試驗 A中散熱試驗樣品應(yīng)該優(yōu)先在無強迫空氣循環(huán)的試驗箱中進行試驗。

2  目的

提供標準試驗程序以確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫/低氣壓綜合環(huán)境使用和/或貯存的適應(yīng)性。

3  一般說明

本試驗是GB/T2423.1試驗Ab或試驗Ad和GB/T2423.21試驗M的綜合。

試驗中，試驗樣品首先應(yīng)經(jīng)受相關(guān)規(guī)范規(guī)定的嚴酷度等級的低溫試驗。如果試驗過程中試驗樣品要工作，則要對其進行檢測，以保證試驗樣品能夠正常工作。然后在溫度保持規(guī)定值的情況下，將試驗箱壓力降到相關(guān)規(guī)范規(guī)定的試驗壓力。將此溫度、壓力條件保持規(guī)定時間。