當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 老化試驗箱 > 蒸氣老化試驗箱 > DR-H306芯片電阻電容蒸汽老化試驗箱
簡要描述:芯片電阻電容蒸汽老化試驗箱適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導(dǎo)體、被動組件、零件接腳氧化試驗。
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芯片電阻電容蒸汽老化試驗箱簡介:
蒸汽老化試驗箱適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導(dǎo)體、被動組件、零件接腳氧化試驗。老化箱整體由SUS #304 不銹鋼制成,操作設(shè)定簡易,微電腦數(shù)位LED控制,具有時間設(shè)定功能,多重超溫保護(hù)、缺水切斷電熱等安全裝置。
芯片電阻電容蒸汽老化試驗箱用途:
適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導(dǎo)體、被動組件、零件接腳氧化試驗。
蒸汽老化試驗箱控制系統(tǒng):
微電腦溫度控制器、LED數(shù)字顯示,PID+SSR控制,白金電阻溫度傳感器(PT-100),解析度0.1℃,全自動安全保護(hù)裝置。
蒸汽老化試驗機(jī)技術(shù)規(guī)格參數(shù):
內(nèi)部尺寸:500×400×170(W×H×D)mm;
外部尺寸:600×500×420(W×H×D)mm;
蒸屜尺寸:300×120×60(L*W*H mm) 三個
內(nèi)外箱體材質(zhì):SUS304#優(yōu)質(zhì)不銹鋼板;
保溫層:巖棉
升溫時間:大約40分鐘;控制功能:PID+SSR,數(shù)字式顯示;
溫控器:采用CHB401智能溫度控制器。成熟耐用。
溫度范圍:RT-98℃
控制精度:±0.5℃
溫度均勻度:≤2℃
計時功能:1~9999分鐘,附時到報警功能,時間到達(dá)后切斷電源;
水位控制:自動補(bǔ)水,缺水?dāng)嚯姽δ芤苑栏蔁?/p>
電熱管:采用304不銹鋼發(fā)熱管.
電源:AC 220V±10% 50Hz 3.0KW
滿足標(biāo)準(zhǔn):
符合軍規(guī)MTL-STP-208F,202
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