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當前位置:首頁  >  產(chǎn)品中心  >  氣候模擬試驗箱  >  高空低氣壓模擬試驗機  >  DR-H208A10KPa低溫低氣壓試驗箱設備

10KPa低溫低氣壓試驗箱設備

簡要描述:10KPa低溫低氣壓試驗箱設備是一個密封的容器,用于容納待測試的物品。它通常具有一定的隔熱性能,以保持低溫環(huán)境。同時,試驗箱也需要具備良好的密封性能,以確保試驗過程中不會發(fā)生氣體泄漏。冷源系統(tǒng):冷源系統(tǒng)用于提供低溫環(huán)境。它通常包括制冷機組、蒸發(fā)器、冷凝器等組件,通過循環(huán)制冷劑的方式將試驗箱內部的溫度降低到所需的低溫水平。

  • 產(chǎn)品型號:DR-H208A
  • 廠商性質:生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-11-22
  • 訪  問  量:490

詳細介紹

高空低氣壓試驗箱型號

DR-H208-100L

DR-H208-1000L

標稱內容積

100L

1000L

內箱尺寸(WxHxD)mm

400x500x500

1000x1000x1000

溫度范圍

-70~150

溫度波動度

±0.5

溫度均勻度

±2.0

升溫速率

平均1/min 空載

降溫速率

平均1/min 空載

壓力范圍

常壓(1.01325X105Pa~0.5KPa

壓力偏差

A: ≥40kPa時,±2kPa   B:4kPa~40kPa時,±0.5kPa   C:4kPa時,±0.1kPa

壓縮機

進口博客(或日立,谷輪)壓縮機

制冷方式

風冷式/水冷式

保溫材質

耐高溫高密度氯基乙醋泡沫絕緣體材料

加熱系統(tǒng)

鎳鉻合金加熱器

內箱材質

304不銹鋼

外箱材質

A3冷軋鋼板靜電雙面噴塑

電源

380V,50/60HZ

 

 

低氣壓試驗箱海報.jpg

10KPa低溫低氣壓試驗箱設備特點:
具有自動加水功能并且在試驗過程中水位過低時自動補水。
試驗過程自動運轉至完成結束,使用簡便。
溫度控制:LED數(shù)字型溫度控制器可作確試驗溫度之設定、控制及顯示。
計時器:LED數(shù)字型計時器,當鍋內溫度到達後才開始計時以確保試驗理想。
準的壓力/溫度表隨時顯示鍋內壓力與相對溫度。
運轉時流水器自動排出未飽和蒸氣以達到*佳蒸氣品質。
一體成型矽膠門墊圈,氣密度良好,且使用壽命長。
試驗箱內經(jīng)拋光處理經(jīng)久耐用美觀不沾污。

10KPa低溫低氣壓試驗箱設備是一種專門用于進行低溫低氣壓條件下的試驗的設備。它通常由如下組成部分構成:

試驗箱:試驗箱是一個密封的容器,用于容納待測試的物品。它通常具有一定的隔熱性能,以保持低溫環(huán)境。同時,試驗箱也需要具備良好的密封性能,以確保試驗過程中不會發(fā)生氣體泄漏。

冷源系統(tǒng):冷源系統(tǒng)用于提供低溫環(huán)境。它通常包括制冷機組、蒸發(fā)器、冷凝器等組件,通過循環(huán)制冷劑的方式將試驗箱內部的溫度降低到所需的低溫水平。

氣壓控制系統(tǒng):氣壓控制系統(tǒng)用于調節(jié)試驗箱內部的氣壓。它通常包括真空泵、氣壓傳感器、氣閥等組件,通過控制氣壓的升降,實現(xiàn)低氣壓條件下的試驗要求。

控制系統(tǒng):控制系統(tǒng)用于監(jiān)控和控制整個試驗過程。它通常包括溫度傳感器、壓力傳感器、液晶顯示屏、控制器等組件,通過對各個部件的監(jiān)測和控制,確保試驗箱設備能夠按照設定的參數(shù)進行工作。

10KPa低溫低氣壓試驗箱主要用于模擬低溫低氣壓環(huán)境下的條件,對物品的可靠性、耐受性等性能進行測試。它在航空航天、電子元器件、材料科學等領域有著廣泛的應用。

設備滿足以下標準:

GB10592-89   高低溫箱技術條件

GB11158      高溫試驗箱技術條件;

GB10589      低溫試驗箱技術條件;

GB10592      高低溫試驗箱技術條件

GB/T10586-2006   濕熱試驗箱技術條件

GB/T2423.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫

GB/T2423.2-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫

GB/T2423.3-2006  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗

GB/T2423.4-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Db:交變濕熱(12h+12h循環(huán))

GB/T2423.22-2002  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)節(jié)試驗規(guī)程,試驗N:溫度變化試驗方法

GB/T5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法總則

GJB150.3A-2009 JUN用裝備試驗室環(huán)境試驗方法(高溫試驗)

GJB150.4A-2009JUN試驗室環(huán)境試驗方法 (低溫試驗)

GJB150.9A-2009JUN試驗室環(huán)境試驗方法 (濕熱試驗)

GB2423.1-89  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法

GB2423.2-89  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法


 

 

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