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HAST未飽和高壓蒸汽恒定濕熱試驗箱是根據(jù)GBT2423.40-2013電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第40部分:試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱設(shè)計研發(fā)的一款設(shè)備,通過施加嚴酷的溫度、濕度和偏置條件來加速潮氣穿透外部保護材料(灌封或密封)或外部保護材料和金屬導體的交接面,來評價非氣密封裝半導體器件在潮濕的環(huán)境下的可靠性。
HAST半導體器件強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗箱是根據(jù)GB/T 4937.4半導體器件機械和氣候試驗方法 第4部分∶強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(HAST)設(shè)計研發(fā)的一款設(shè)備,通過施加嚴酷的溫度、濕度和偏置條件來加速潮氣穿透外部保護材料(灌封或密封)或外部保護材料和金屬導體的交接面,來評價非氣密封裝半導體器件在潮濕的環(huán)境下的可靠性。
強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗箱(HAST)是根據(jù)GB/T 4937.4半導體器件機械和氣候試驗方法 第4部分∶強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(HAST)設(shè)計研發(fā)的一款設(shè)備,通過施加嚴酷的溫度、濕度和偏置條件來加速潮氣穿透外部保護材料(灌封或密封)或外部保護材料和金屬導體的交接面,來評價非氣密封裝半導體器件在潮濕的環(huán)境下的可靠性。
DR-H309漳州內(nèi)存卡HAST老化試驗箱。HAST高壓老化試驗箱的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等),加快試驗過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件和機械零件的磨耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。
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湖州光纖光纜HAST老化試驗箱。HAST高壓老化試驗箱的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等),加快試驗過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件和機械零件的磨耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。
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